IC芯片,英文名Integrated Circuit Chip,就是是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容等)形成的集成電路放在一塊塑基上,從而做成一塊芯片。目前IC芯片的質(zhì)量對(duì)整個(gè)電子產(chǎn)品的作用非常大,它直接影響著整個(gè)產(chǎn)品上市后的質(zhì)量問題。那么對(duì)于采購人員而已,如何正確的檢測(cè)IC芯片質(zhì)量的好壞?本文簡單介紹幾種方法。


金屬在外加載荷的作用下,當(dāng)應(yīng)力達(dá)到材料的斷裂強(qiáng)度時(shí),發(fā)生斷裂。金屬材料的斷裂過程一般有三個(gè)階段,即裂紋的萌生,裂紋的亞穩(wěn)擴(kuò)展及失穩(wěn)擴(kuò)展,最后是斷裂。金屬構(gòu)件可能在材料制造、構(gòu)件成形或使用階段的不同條件下啟裂、萌生裂紋;并受不同的環(huán)境因素及承載狀態(tài)的影響而使裂紋擴(kuò)展直至斷裂。


機(jī)械零件由于某些原因喪失工作能力或達(dá)不到設(shè)計(jì)要求性能時(shí),稱為失效。機(jī)械零件的失效并不是單純意味著破壞,可歸納為三種情況:完全不能工作;雖然能工作,但性能惡劣,超過規(guī)定指標(biāo);有嚴(yán)重?fù)p傷,失去安全工作能力。為了預(yù)防零件失效,需對(duì)零件進(jìn)行失效分析,即通過判斷零件失效形式、確定零件失效機(jī)理和原因,有針對(duì)性地進(jìn)行選材、確定合理的加工路線,提出預(yù)防失效的措施。


電容器是電路或電力設(shè)備中不可缺少的一部分。而且電容器的種類很多,瓷片電容器就是其中之一。電容之所以會(huì)漏電,因?yàn)殡娙輧蓸O之間的介電材質(zhì)不可能是絕對(duì)絕緣的,只能是相對(duì)絕緣,因此有些電容存在漏電流。


場(chǎng)效應(yīng)管英文縮寫為FET,可分為結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管(JFET)和絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET),我們平常簡稱為MOS管。而MOS管又可分為增強(qiáng)型和耗盡型而我們平常主板中常見使用的也就是增強(qiáng)型的MOS管。場(chǎng)效應(yīng)管由多數(shù)載流子參與導(dǎo)電,它屬于電壓控制型半導(dǎo)體器件。具有輸入電阻高(107~1015Ω)、噪聲小、功耗低、動(dòng)態(tài)范圍大、易于集成、沒有二次擊穿現(xiàn)象、安全工作區(qū)域?qū)挼葍?yōu)點(diǎn),現(xiàn)已成為雙極型晶體管和功率晶體管的強(qiáng)大競爭者。


性能檢測(cè)的基本原則是:越早發(fā)現(xiàn)問題,越容易定位問題,也越容易修復(fù)問題。因此,性能檢測(cè)可以貫穿軟件研發(fā)生命周期的各個(gè)階段,比如:單元測(cè)試可以測(cè)試多線程并發(fā)下的功能準(zhǔn)確性,每個(gè) API 也都需要進(jìn)行性能檢測(cè)和評(píng)估,集成測(cè)試時(shí)需要顧及所用模塊的數(shù)據(jù)大小及緩存使用情況,系統(tǒng)測(cè)試中也需要從用戶負(fù)載的角度衡量相關(guān)的全局性能指標(biāo)等等。那么,什么時(shí)候開展性能檢測(cè)?性能檢測(cè)的目的是什么?


任何任務(wù)都要先確認(rèn)任務(wù)的目標(biāo)是什么,如果不知道目標(biāo),任何努力的結(jié)果都可能不是最終想要的結(jié)果。性能測(cè)試也是如此,總結(jié)以往雖然測(cè)試人員自始至終對(duì)測(cè)試工作都做到了認(rèn)真負(fù)責(zé),但測(cè)試報(bào)告出爐后,大家總覺得美中不足,對(duì)測(cè)試結(jié)果都心存疑慮,尤其在那些時(shí)間跨度較長、針對(duì)不同的測(cè)試對(duì)象的性能對(duì)比測(cè)試中,或多或少都存在以下幾個(gè)方面的問題:


微控制單元(Microcontroller Unit;MCU) ,又稱單片微型計(jì)算機(jī)(Single Chip Microcomputer )或者單片機(jī),是把中央處理器(Central Process Unit;CPU)的頻率與規(guī)格做適當(dāng)縮減,并將內(nèi)存(memory)、計(jì)數(shù)器(Timer)、USB、A/D轉(zhuǎn)換、UART、PLC、DMA等周邊接口,甚至LCD驅(qū)動(dòng)電路都整合在單一芯片上,形成芯片級(jí)的計(jì)算機(jī),為不同的應(yīng)用場(chǎng)合做不同組合控制。


CNAS認(rèn)證屬于什么認(rèn)證?CNAS(英文全稱為:China National Accreditation Service for Conformity Assessment)是中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)的簡稱,是國家行政部門授權(quán)的國家認(rèn)可機(jī)構(gòu),負(fù)責(zé)對(duì)相關(guān)的實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢測(cè)資質(zhì)認(rèn)定,對(duì)檢測(cè)環(huán)境和檢測(cè)能力達(dá)標(biāo)的機(jī)構(gòu)或者實(shí)驗(yàn)室授予CNAS檢測(cè)資質(zhì)。


CNAS認(rèn)可,為中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)(China National Accreditation Service for Conformity Assessment,CNAS)的認(rèn)證英文縮寫,是在原中國認(rèn)證機(jī)構(gòu)國家認(rèn)可委員會(huì)(CNAB)和中國實(shí)驗(yàn)室國家認(rèn)可委員會(huì)(CNAL)基礎(chǔ)上合并重組而成的實(shí)驗(yàn)室獲得CNAS認(rèn)可標(biāo)志,能力獲得國家認(rèn)可組織承認(rèn),可以出具認(rèn)可標(biāo)識(shí)的報(bào)告便于開展業(yè)務(wù)。




